如何根据TEM衍射斑点推测不同晶面？？

tem电子衍射斑点是怎样形成的~

tem电子衍射斑点形成的过程如下：

当电子波（具有一定能量的电子）落到晶体上时，被晶体中原子散射，各散射电子波之间产生互相干涉现象。晶体中每个原子均对电子进行散射，使电子改变其方向和波长。在散射过程中部分电子与原子有能量交换作用，电子的波长发生变化，此时称非弹性散射；若无能量交换作用，电子的波长不变，则称弹性散射。在弹性散射过程中，由于晶体中原子排列的周期性，各原子所散射的电子波在叠加时互相干涉，散射波的总强度在空间的分布并不连续，除在某一定方向外，散射波的总强度为零。
波在传播过程中遇到障碍物时会绕过障碍物继续传播，在经典物理学中称为波的衍射，光在传播过程表现出波的衍射性，光还表现出干涉和偏振现象，表明光有波动性；光电效应揭示光与物质相互作用时表现出粒子性，其能量有一个不能连续分割的最小单元，即普朗克1900年首先作为一个基本假设提出来的普朗克关系E为光子的能量，v为光的频率，h为普朗克常数，光具有波粒二象性。电子在与电磁场相互作用时表现为粒子性，在另一些相互作用过程中是否会表现出波动性？德布罗意从光的波粒二象性得到启发，在1923－1924年间提出电子具有波粒二象性的假设，E为电子的能量， 为电子的动量， 为平面波的圆频率， 为平面波的波矢量， 为约化普朗克常数；波矢量的大小与波长λ的关系为 ， 称为德布罗意关系。电子具有波粒二象性的假设，拉开了量子力学革命的序幕。

衍射仪进展主要三面:
1、X射线发器2、探测器3、衍射几何与光路
折叠x射线发器
X射线发器进行X射线衍射实验所缺少、重要设备其优劣严重影响X射线衍射数据质量
折叠探测器
探测器用记录衍射谱晶体衍射设备或缺重要部件早先广泛使用照相底片由于吸收率低量X射线透吸收;计数线性范围强衍射易测准;且起"雾";由于要暗室用化进行显影、定影、冲洗、晒干等套繁琐程性能更光计数器所取代计数器探测器需化处理通电电路直接记录衍射光数便许初计数器盖格计数器由于间辨率高计数线性范围故良探测器比计数器及闪烁计数器取代盖格计数器广泛使用探测器随着类自认识越越广越越深实验要求越越高越化简单比或闪烁计数器亦 能满足同实验要求于陆续发展许同探测器

方法：有三种指数直接标定法、比值法(偿试－校核法)、标准衍射图法选择靠近中心透射斑且不在一条直线上的斑点，测量它们的R，利用R2比值的递增规律确定点阵类型和这几个斑点所属的晶面族指数(hkl)等。(1)、指数直接标定法：(已知样品和相机 常数L?)可分别计算产生这几个斑点的晶面间距d=L? /R并与标准d值比较直接写出(hkl。也可事先计算R2／R1，R3／R1，和R1、R2间夹角，据此进行标定。(2)、比值法(偿试－校核法)：物相未知根据Ri/R1比值查表(例P93)或Ri2/R12比值查表(例P94),再利用Ri之间的夹角来校验。任取(h1k1l1)，而第二个斑点的指数(h2k2l2),应根据R1与R2之间的夹角的测量值是否与该两组晶面的夹角相苻来确定。（3）标准衍射图法对于常见金属晶体可以对比标准衍射图进行标定

请问TEM衍射斑中5 1/nm 是什么意思?
答：倒格失的长度吧，单位正是标准长度单位的倒数。从这个值可以推导出晶格参数。

多晶和单晶电子衍射斑点计算过程,说明两者的区别在哪里
答：自从电子衍射工作搬上电镜以后，电子显微镜就变成了一种十分有力的由表及里的分析仪器。到今天，透射电镜的分辨能力已经达到了亚埃级，TEM图像更加清晰，研究中也越来越多地利用到电镜，本文将介绍几种简单便捷的单晶多晶电子衍射花样的标定方法，帮助大家将电镜的结构分析功能充分利用起来。

请问大家如何通过高倍透射电镜(HR-TEM)中的FFT分析晶面啊?
答：原理上，这样的测算结果跟直接在TEM图像上测量晶格条纹的间距得到的结果是一样的，但实际上通过FFT得到的是大量同类晶面的统计结果，精度远高于直接测量，有很多时候直接测量甚至是无法完成的。FFT测算出的晶面间距，其数值可于XRD卡片中的某个d值对应。以上只是大致方法，不知道你的知识基础和样品具体情况...

透射电镜能区分两种不同的金属吗
答：透射电镜能区分两种不同的金属。透射电镜可以拍摄晶体衍射花样图，然后得出金属晶格类型和参数，通过晶格类型和参数来区分不同的金属。透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就...

ZnO TEM图如何分析
答：TEM下拍相对应的衍射花样，根据衍射图测量点距和夹角，可以计算得到晶面间距。套用布拉格公式。具体随便翻一翻X射线衍射或晶体衍射的教科书看看就知道

有关透射电镜(TEM)选区电子衍射(SAED)的三个问题
答：1. SAED是什么？其背后的原理是什么？当高能电子束穿透薄的样品时，它会在物镜后焦平面上产生电子衍射花样，这是电子束与晶体结构相互作用的结果。SAED通过控制电子束的聚焦区域，聚焦在选定的区域上，揭示了该区域的晶体学特性。简单来说，SAED是电子束在倒易空间中的映射，倒易矢量与衍射花样上的斑点...

电子衍射的方法
答：一般，除了纳米材料研究中在电镜用电子衍射中常将衍射花纹作为晶格类型的佐证外，常规的LEED和RHEED并不作体材料三维晶格研究，而只用于表面晶格的判定，因为电子衍射一般只能反映晶格的二维表面结构，而不同晶体结构的晶体之间，它们的某一表面取向上它的对称性及衍射斑点可能会完全一致。电子衍射一般只用于...

tem可以测铁基非晶材料吗
答：tem可以测铁基非晶材料，采用tem的测试方法，仪器TEM，样品需要Fe基非晶软磁材料粉末加入酒精，然后滴到TEM铜网上，吹干。TEM测试结果看衍射是斑点还是环装，就可以知道是晶体还是非晶

透射电镜(TEM)的基本原理是什么?
答：透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上（片状< 100 nm，颗粒< 2 um），电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。图片的明暗不同（黑白灰）与样品的...

选区电子衍射上怎么标注各个晶面数据?
答：衍射斑点是有倒格子空间，所以量衍射中心到某点的距离后，还需要转到正空间得到相应的数值，把这个数值与PDF卡片对照可以确定相当的晶面。1、所给出的三幅图是如下得到的：1.低倍透射得a；2. SAED得b；3. 在a中白框处放大得到高分辨的c图。c的插图是对高分辨相进行快速傅立叶变换得到。2、这里...